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2015
8-25
在光學領域中,透鏡的三項基本參數是中心厚度、折射率和曲率半徑,其中透鏡中心厚度加工的誤差是影響光學系統成像的重要因素。例如在航空、航天等高精度光學系統產品中,對透鏡的公差有著嚴格的要求,透鏡的光軸偏角、徑向偏移和軸向間隙...
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2015
8-5
隨著LED產業的快速發展，LED的特性測量問題日益受到社會的關注。與白熾燈、熒光燈等傳統光源相比，發光二極管（LED）具有壽命長、光效高、功耗低及便于維修等優點，因此，對LED性能參數的測試顯得尤為重要。評價LED性能參...
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2015
7-20
微型光纖光譜儀應用1引言光譜儀器是應用光學技術、電子技術及計算機技術對物質的成分及結構等進行分析和測量的基本設備，廣泛應用于環境監測、工業控制、化學分析、食品品質檢測、材料分析、臨床檢驗、航空航天遙感及科學教育等領域。由...
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2015
7-15
隨著在紡織行業對織物和染料評定的標準越來越高，方便快捷的測量校準日曬氣候色牢度試驗儀（也稱紫外老化儀）正成為一種迫切的需求，給纖維檢驗計量單位和日曬儀廠家提供一種更加的測量校準方式。本文以荷蘭Avantes公司的AvaS...
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2015
7-9
激光弧光光譜（LASS）、激光誘導等離子光譜（LIPS）或者更常見的叫法激光誘導擊穿光譜（LIBS）是一種原子發射光譜，它使用脈沖激光器作為激發源。它的基本原理請參見下面的示意圖。脈沖激光器(比如調Q的Nd:YAG激光器...
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2015
7-9
物物體的顏色可以用CIE1976（L*a*b*）顏色空間表示。L*值表示顏色的亮度，正的a*值表示顏色的紅色值，負的a*值表示顏色的綠色值。近似地，黃色和藍色值由b坐標值表示，正值表示顏色的黃色值，負值表示顏色的藍色值。...
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2015
7-6
在鍍膜過程中需要對一些重要參數進行監控，如膜層厚度、成分、表面光潔度、光透射率、反射系數、偏振特性等，都可以利用光譜學和雙光束干涉的方法進行測量。光纖的使用為監控過程提供了靈活的工具，可以使光方便地進入或導出遠方的真空超...
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2015
7-3
薄膜測量系統是專門針對半導體、材料、生物醫學薄膜的實驗室分析及在線監測開發的，用于測量薄膜反射率及膜層厚度的綜合測量系統。該系統基于白光反射及干涉的原理來確定光學薄膜的厚度?？梢酝ㄟ^對白光干涉圖樣進行數學運算來計算出薄膜...
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2015
7-3
光是植物生理、生態和農業生產中的一個重要環境因素，對植物的生長發育起著重要作用。而在植物的光合作用中，只有能被植物吸收和利用的光才是與光合或干物質積累有關。測量這部分光，并且以能量單位度量，作為光合效率或干物質生產效率的...
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2015
6-24
地物光譜測量是依據地球表面物體對可見光和近紅外的反射率測量。地物光譜測量可以直接地或者輔助其他方法對物體做定性或定量分析。典型的地物光譜測量任務典型的任務：獲取某一地區的作物的分布圖。終制成的地圖中標出作物的類別，例如：...